型号：FEI Titan Cubed G2 300
安装时间：2017年5月
STEM/HAADF分辨率： 0.06 nm（300kV）、0.13 nm（60kV）
TEM 极限分辨率： 0.056 nm（300kV）、 0.10 nm（60kV）
探测器：四个探头 （HAADF、DF2、DF2、BF ）
加速电压： 30kV、60kV、120kV、300kV
附件：
CMOS 相机，像素≥4Kx 4K，动态范围≥16 bit，单像素尺寸≥14 um x14 um ;
可同时采集STEM图像，EDS能谱，并进行面分布分析，并可进行STEM图像和EDS面分布结果的实时校准。
仪器特点：极大的物镜极靴（5.4mm）、四探头的超级能谱及适合不同测试样品的加速电压 。
样品范围：催化剂、电池材料、纳米材料的微观形貌表征、结构和微区成分分析、磁性材料磁畴的观测及原位 实验 （包括原位热电和三维重构 ）。
