高分辨透射电子显微镜

型号： JEM-2010

安装时间：2002年5月

安放地点：工物馆102室

晶格分辨率：1.94 Å

点分辨率：2.3 Å

最小束班尺寸：0.5 nm

加速电压：120-200 kV

放大倍数： 2k-1500k

附件：CCD相机（Gatan 832）、X-射线能谱仪（Oxford Instrument）

服务对象：全国各地科研单位

样品范围：量子点、小分子、石墨烯、有机晶体、有色金属、纳米材料、复合材料、软体、易辐照损伤样品